К основному содержимому
RadioBox

Вход в аккаунт

Ещё нет аккаунта?

Тестер 4-контактных оптопар V5.0, DIP/SMD, проверка на плате, USB Type-C

Артикул: 00472

В наличии

360 ₴
1

Описание

Тестер оптопар V5.0 предназначен для быстрой проверки исправности 4-контактных оптопар при ремонте электронной техники. Позволяет проверять компоненты непосредственно на обесточенной плате, а также тестировать выпаянные DIP- и SMD-оптопары.

Версия V5.0 оснащена разъёмом USB Type-C, отдельным индикатором питания и сигнальным светодиодом. На плате предусмотрены контактные площадки для разных способов проверки, поэтому для большинства тестов не требуется постоянно впаивать компоненты в тестер.

Подходит для большинства распространённых 4-контактных оптопар, включая серии 817, 781, 521 и аналогичные по схеме подключения.

Возможности тестера:

  • проверка 4-контактных оптопар;
  • тестирование непосредственно на плате без выпаивания;
  • проверка выводных DIP-компонентов;
  • проверка SMD-оптопар;
  • питание через USB Type-C;
  • отдельный индикатор наличия питания;
  • сигнальный LED для оценки исправности оптопары;
  • компактная конструкция для работы мастера.

Для SMD-компонентов предусмотрена тестовая площадка размером около 11 × 4 мм. По данным производителя она рассчитана на корпуса примерно от 3,8 × 2 мм до 7,6 × 3,6 мм без учёта выводов.

Как пользоваться:

Перед проверкой компонента непосредственно на плате обязательно отключите питание устройства и разрядите крупные конденсаторы.

Определите вывод №1 оптопары. Соответствующий контакт отмечен и на тестере.

Подключите тестер к источнику питания через USB Type-C. Индикатор питания подтвердит подачу напряжения.

При проверке исправной оптопары сигнальный светодиод должен мигать. Яркость свечения у разных оптопар может отличаться — основным признаком является именно мигание.

Если результат проверки непосредственно на плате вызывает сомнения, компонент рекомендуется выпаять и повторно проверить отдельно.

Важно: тестер предназначен для 4-контактных оптопар. Проверяемая плата во время тестирования не должна находиться под напряжением.